Hyperspectral Imaging Microscopy for Atomic Layer Mapping of Two-Dimensional Materials

Reports on Measurement and Sensor Systems

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Bibliografische Daten
ISBN/EAN: 9783844085174
Sprache: Englisch
Umfang: 173 S., 60 farbige Illustr., 60 Illustr.
Auflage: 1. Auflage 2022
Einband: kartoniertes Buch

Beschreibung

Reports on hyperspectral imaging microscopy techniques for atomic layer mapping of two-dimensional materials

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Hersteller:
Shaker Verlag GmbH
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DE 52353 Düren