Bibliografische Daten
ISBN/EAN: 9781849967051
Sprache: Englisch
Umfang: xii, 123 S., 66 s/w Illustr., 123 p. 66 illus.
Auflage: 1. Auflage 2012
Einband: kartoniertes Buch
Beschreibung
InhaltsangabeIntroduction Silver Thin Film Analysis Diffusion Barriers and Self-encapsulation Thermal Stability Silver Electromigration Resistance Integration Issues Summary
Inhalt
Introduction Silver Thin Film Analysis Diffusion Barriers and Self-encapsulation Thermal Stability Silver Electromigration Resistance Integration Issues Summary
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